一种用于PET闪烁晶体性能测试的电子学数据处理方法及系统
文献类型：专利
| 作者 | 周魏 ; 章志明; 魏龙; 魏存峰; 李道武; 王培林; 丰宝桐; 胡婷婷; 李晓辉; 黄欢
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| 发表日期 | 2019 |
| 专利号 | CN109884684 |
| 著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种用于PET闪烁晶体性能测试的电子学数据处理方法及系统。本方法为：1)将N路串行数据流转换为数字化的N路并行信号；2)将每路并行信号分成两路，一路进入信号寻峰模块，用于判断输入信号是否为有效脉冲信号并输出对应的通道信号标志Flag，一路进入信号延迟模块，用于将输入信号延迟到Flag产生的时刻；3)将各Flag进行或运算得到信号Eflag，将其对应时刻作为对延迟信号同时电荷积分的时间起点；4)对各路信号同时进行信号积分，获得相应积分电荷量并存储到对应能量FIFO模块；5)实时监测任一能量FIFO模块的状态，如果其状态不为空，则读取N路能量FIFO模块的缓存数据发送给数据分析单元。 |
| 公开日期 | 2019 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298372]  |
| 专题 | 高能物理研究所_核技术应用研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周魏,章志明,魏龙,等. 一种用于PET闪烁晶体性能测试的电子学数据处理方法及系统. CN109884684. 2019-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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