一种扫描薄板结构的工业CL系统的扫描装置
文献类型:专利
作者 | 阙介民![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2016 |
专利号 | CN105445292 |
著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 一种扫描薄板结构的工业CL系统的扫描装置,所述扫描装置包括X射线源、探测器,载物台,所述载物台设于该X射线源与该探测器之间;该载物台包括倾斜角度调节转台、扫描转台和载具,通过所述倾斜角度调节转台和扫描转台活动地支撑所述载具;该载具固定供承载一待测样品,所述扫描转台驱动该载具以一水平线为轴旋转;该倾斜角度调节转台能够带动该载具以一垂线为轴旋转;该载具的中心与该X射线源光源出口、该探测器中心能位于同一水平面上。本发明的装置能够轻易调整待测样品的倾斜角度,使扫描方式多样灵活,能够在多种扫描倾斜角、360度旋转角下对板状结构样品进行断层扫描成像。 |
公开日期 | 2016 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298663] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_核技术应用研究中心 |
作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 阙介民,魏存峰,孙翠丽,等. 一种扫描薄板结构的工业CL系统的扫描装置. CN105445292. 2016-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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