靶前高能质子束斑测量方法及系统
文献类型：专利
| 作者 | 敬罕涛 ; 田斌斌; 孙艳坤
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| 发表日期 | 2021 |
| 专利号 | CN113376682 |
| 著作权人 | 散裂中子源科学中心 ; 中国科学院高能物理研究所 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 英文摘要 | 一种靶前高能质子束斑测量方法及系统，包括将能够用于小孔成像的小孔装置设置在伽玛射线探测器和靶站之间，结合小孔成像原理，能够将靶站反角方向上靶面次级伽玛射线的像传输至像素型伽玛射线探测器上，进而可以通过所探测得到的靶面次级伽玛射线的分布信息得到靶面入射质子的束斑分布信息，能够实时的获得入射质子束斑的分布图像。由于该靶前高能质子束斑测量方法及系统可以避开强辐射的靶区，使得本系统适用于高功率散裂中子源和加速器驱动次临界系统等大型装置的靶前高能质子的束斑测量，且打靶的入射质子束流的功率越高，测量效果越好。 |
| 公开日期 | 2021 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298122]  |
| 专题 | 高能物理研究所_东莞分部 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 敬罕涛,田斌斌,孙艳坤. 靶前高能质子束斑测量方法及系统. CN113376682. 2021-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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