一种质子源的获取方法
文献类型:专利
作者 | 李样![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2019 |
专利号 | CN109801730 |
著作权人 | 中国科学院高能物理研究所 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明涉及中子散裂技术领域,尤指一种质子源的获取方法;所述的方法主要包括放射源、透光膜和用于支撑放射源和透光膜的源支撑装置,所述的放射源采用镅‑241放射源用作α源,透光膜采用麦拉膜,源支撑装置用于固定α源和麦拉膜;将α源和麦拉膜按照发射的方向依次安装在源支撑装置上,使麦拉膜表面与α源表面平行;镅‑241发生α衰变,放出的α粒子轰击麦拉膜使其分子结构中的碳氢键断裂,释放出自由质子;本发明制作简单、成本低、操作灵活度高,产生的质子通量可满足一般实验需要,可用于产生低能量(keV)质子束流,测量低能量质子与物质相互作用的截面,以及探测器的能量标定等等。 |
公开日期 | 2019 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/298380] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_东莞分部 |
作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李样,鲍煜,樊睿瑞,等. 一种质子源的获取方法. CN109801730. 2019-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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