M型Czerny-Turner光谱仪结构优化设计与分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 吴云鹏; 王军 |
| 刊名 | 激光与光电子学进展
 |
| 出版日期 | 2022 |
| 卷号 | 59期号:11页码:496-501 |
| 英文摘要 | 针对M型Czerny-Turner光谱仪在像差校正时可能会出现的二次衍射问题，提出了此光学结构在消慧差条件下的反二次衍射条件。分析了二次衍射出现的主要因素，并进行了理论推导。结合反二次衍射条件与消慧差优化的约束条件，搭建了M型消慧差Czerny-Turner结构光谱仪。为了验证理论分析的正确性，使用Zemax OpticStudio仿真软件进行了对比实验。仿真结果表明：满足约束条件的M型光路结构中不会出现二次衍射现象，而不满足约束条件的M型光路结构中则会出现二次衍射现象，与理论分析结果相符。在入射狭缝宽度为25μm、光栅刻线密度为600 line/mm的条件下，软件优化后的光学系统在200～500 nm范围内的光谱分辨率优于1 nm。 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/66154]  |
| 专题 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 作者单位 | 1.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 2.苏州科技大学电子与信息工程学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴云鹏,王军. M型Czerny-Turner光谱仪结构优化设计与分析[J]. 激光与光电子学进展,2022,59(11):496-501. |
| APA | 吴云鹏,&王军.(2022).M型Czerny-Turner光谱仪结构优化设计与分析.激光与光电子学进展,59(11),496-501. |
| MLA | 吴云鹏,et al."M型Czerny-Turner光谱仪结构优化设计与分析".激光与光电子学进展 59.11(2022):496-501. |
入库方式： OAI收割
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