Reflectometry with Polarized Neutrons on In Situ Grown Thin Films
文献类型:期刊论文
作者 | Kreuzpaintner, W; Schmehl, A; Book, A; Mairoser, T; Ye, JF; Wiedemann, B; Mayr, S; Moulin, JF; Stahn, J; Gilbert, DA |
刊名 | PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS
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出版日期 | 2022 |
卷号 | 259期号:5页码:2100153 |
ISSN号 | 0370-1972 |
DOI | 10.1002/pssb.202100153 |
文献子类 | Article |
电子版国际标准刊号 | 1521-3951 |
语种 | 英语 |
WOS记录号 | WOS:000696463700001 |
源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/300085] ![]() |
专题 | 高能物理研究所_东莞分部 |
作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Kreuzpaintner, W,Schmehl, A,Book, A,et al. Reflectometry with Polarized Neutrons on In Situ Grown Thin Films[J]. PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS,2022,259(5):2100153. |
APA | Kreuzpaintner, W.,Schmehl, A.,Book, A.,Mairoser, T.,Ye, JF.,...&Boni, P.(2022).Reflectometry with Polarized Neutrons on In Situ Grown Thin Films.PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS,259(5),2100153. |
MLA | Kreuzpaintner, W,et al."Reflectometry with Polarized Neutrons on In Situ Grown Thin Films".PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS 259.5(2022):2100153. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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