一种闪烁体余辉精确测量装置
文献类型：专利
| 作者 | 刘永安 ; 盛立志; 强鹏飞; 苏桐; 刘哲; 田进寿; 赵宝升
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| 发表日期 | 2021-02-19 |
| 专利号 | CN202021865090.8 |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本实用新型提供一种闪烁体余辉精确测量装置，解决现有余辉测试装置存在余辉时间测量精度较低的问题。装置包括X射线屏蔽壳体、X射线发生机构、测试屏蔽壳体、探测器、时间处理单元；X射线发生机构包括光源、真空壳体、输入窗、光电阴极、聚焦极和阳极靶及光源控制电路，光源控制电路控制光源通断及向时间处理单元发送起始信号；光源外侧设有隔离密封套筒；真空壳体侧壁和X射线屏蔽壳体之间设X射线输出窗口；X射线屏蔽壳体、隔离密封套筒、真空壳体、X射线输出窗口形成腔体内充有绝缘散热介质；探测器设在测试屏蔽壳体内，用于向时间处理单元发送终止信号和获得待测闪烁体余辉的强度信息，时间处理单元用于获得待测闪烁体的余辉时间信息。 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/96960]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_光电子学研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘永安,盛立志,强鹏飞,等. 一种闪烁体余辉精确测量装置. CN202021865090.8. 2021-02-19. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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