一种X射线超快检测装置
文献类型:专利
作者 | 尹飞![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2020-12-25 |
专利号 | CN202020417572.0 |
著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 实用新型 |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 本实用新型涉及一种X射线超快检测装置,以解决真空条纹相机、真空分幅相机等X射线超快诊断设备体积大,成本高,且控制较为复杂;超快半导体二极管无法实现亚皮秒乃至飞秒量级的X射线超快检测的问题。该装置包括激光器、波长转换机构、时域放大机构、光电探测器、读出电路。激光器发出的测试激光传输至波长转换机构,波长转换机构将待测的X射线脉冲信号时域信息传递给测试激光,再将携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光传输至时域放大机构,时域放大机构对携带有X射线脉冲信号时域信息的测试激光进行时域展宽后,输出至光电探测器,光电探测器将接收到的光信号转换为电信号,并通过读出电路显示。 |
语种 | 中文 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/96963] ![]() |
专题 | 条纹相机工程中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 尹飞,汪韬,高贵龙,等. 一种X射线超快检测装置. CN202020417572.0. 2020-12-25. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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