一种光学组件性能测试平台
文献类型：专利
| 作者 | 赵燕; 赛建刚; 王亚军 ; 高斌; 高博; 韩磊; 张海民; 段炯; 贾琦; 孟宁飞
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| 发表日期 | 2020-11-17 |
| 专利号 | CN202020417334.X |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 实用新型 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本实用新型公开了一种光学组件性能测试平台。该平台包括上壳体、底板以及下壳体；上壳体和下壳体密封扣合为一个密封舱体；下壳体内设有至少三条横梁，每根横梁上均设有至少三个柱状凸起，所有柱状凸起构成用于承载底板的支撑体；底板上放置多个光学测试设备；上壳体的前端面设有光通道接口，所述光通道接口通过软管与外部环境试验模拟装置对接，上壳体的后端面为密封面；上壳体的后端侧面设有光学输出窗口。该测试平台测试精度高、结构简单，易于密封，对于一些小型设备或没有地面条件的环境也同样具有适用性。 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/96962]  |
| 专题 | 环境试验中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵燕,赛建刚,王亚军,等. 一种光学组件性能测试平台. CN202020417334.X. 2020-11-17. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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