一种低功耗BIST测试产生器方案
文献类型：期刊论文
| 作者 | 何蓉晖; 李晓维; 宫云战 |
| 刊名 | 微电子学与计算机
 |
| 出版日期 | 2003 |
| 卷号 | 20.0期号:002页码:36 |
| 关键词 | BIST 低功耗设计 内建自测试 测试产生器 线性反馈移位寄存器 集成电路 |
| ISSN号 | 1000-7180 |
| 英文摘要 | 低功耗设计呼唤低功耗的测试策略。文章提出了一种在不损失固定型故障覆盖率的前提下降低测试功耗的内建自测试测试产生器方案，该方案在原始线性反馈移位寄存器的基础上添加简单的控制逻辑，对LFSR的输出和时钟进行调整，从而得到了准单输入跳变的测试向量集，使得待测电路的平均功耗大大降低，给出了以ISCAS'85/89部分基准电路为对象的实验结果，电路的平均测试功耗降幅在54．4％－98．0％之间，证明了该方案的有效性。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/25732]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 何蓉晖,李晓维,宫云战. 一种低功耗BIST测试产生器方案[J]. 微电子学与计算机,2003,20.0(002):36. |
| APA | 何蓉晖,李晓维,&宫云战.(2003).一种低功耗BIST测试产生器方案.微电子学与计算机,20.0(002),36. |
| MLA | 何蓉晖,et al."一种低功耗BIST测试产生器方案".微电子学与计算机 20.0.002(2003):36. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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