验证包含黑盒的电路设计的有效方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李光辉; 邵明; 李晓椎 |
| 刊名 | 计算机学报
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| 出版日期 | 2004 |
| 卷号 | 27.0期号:006页码:796 |
| 关键词 | 超大规模集成电路设计 错误检测 层次化验证 黑盒验证方法 合取范式 |
| ISSN号 | 0254-4164 |
| 英文摘要 | 在超大规模集成电路设计中，为了进行早期的设计错误检测与调试或层次化验证，常常需要使用含黑盒的设计验证方法，该文提出了一种结合逻辑模拟和布尔可满足性的黑盒验证方法，用于验证设计中黑盒外部的功能正确性，该方法使用量化的合取范式(CNF)来表示电路中出现的未知约束，并且不需要修改电路结构，有效地节省了计算资源，此外，通过使用随机并行模拟增强了可满足性算法的错误检测能力，通过对ISCA’85电路的实验表明了该方法不仅比以往同类算法速度快，而且具有较好的错误检测能力。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/27384]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李光辉,邵明,李晓椎. 验证包含黑盒的电路设计的有效方法[J]. 计算机学报,2004,27.0(006):796. |
| APA | 李光辉,邵明,&李晓椎.(2004).验证包含黑盒的电路设计的有效方法.计算机学报,27.0(006),796. |
| MLA | 李光辉,et al."验证包含黑盒的电路设计的有效方法".计算机学报 27.0.006(2004):796. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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