集成电路中冒险的检测和消除
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘国华; 余潇洋; 闵应骅; 李晓维 |
| 刊名 | 计算机工程与应用
 |
| 出版日期 | 2002 |
| 卷号 | 38.0期号:014页码:211 |
| 关键词 | 集成电路 冒险 检测 消除 带符号路径长度 CMOS集成电路 低功耗设计 |
| ISSN号 | 1002-8331 |
| 英文摘要 | CMOS集成电路中的冒险现象会增大电路的功耗，所以对集成电路中冒险的检测和消除的研究十分重要，文章分别对集成电路中原始输入单跳变，和多跳变两种情况下产生的冒险现象进行了研究，提出了检测和消除冒险的方法。文章的方法可以在非常短的时间内检测出电路中可能产生冒险的点，对于单个原始输入跳变的情况可以通过增加很少的电路开销来消除一部分冒险点。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/29063]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘国华,余潇洋,闵应骅,等. 集成电路中冒险的检测和消除[J]. 计算机工程与应用,2002,38.0(014):211. |
| APA | 刘国华,余潇洋,闵应骅,&李晓维.(2002).集成电路中冒险的检测和消除.计算机工程与应用,38.0(014),211. |
| MLA | 刘国华,et al."集成电路中冒险的检测和消除".计算机工程与应用 38.0.014(2002):211. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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