集成电路测试技术的新进展
文献类型：期刊论文
| 作者 | 时万春 |
| 刊名 | 电子测量与仪器学报
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| 出版日期 | 2007 |
| 卷号 | 21.0期号:004页码:1 |
| 关键词 | 集成电路测试系统 SIP测试 RF测试 DFT测试 并发测试 开放式体系结构ATE |
| ISSN号 | 1000-7105 |
| 英文摘要 | 近年来，半导体工业正在经历一些重要的变化。这些变化的源头就是基础材料的进步，其标志是跨入了毫微技术领域，其结果是我们进入了一个具有更好发展前景的现场系统集成新时代。从器件体系结构的观点，这种转变表现为从我们熟习的CPU、ASICs和存储器到新一代的SOC和SIP。测试这些器件需要具有组合能力的高端测试仪，它必须兼有高端逻辑电路测试仪、RF和混合信号测试仪、存储器测试仪，还要附加一些这些传统测试仪上不可能具有的测试能力，包括提供重要的并行测试能力。本文希望能针对SOC和SIP中的一部分测试技术和测试方法学上的问题进行一定的讨论。这些主题分别是：IC测试系统、SIP测试、RF测试、DFY测试、并发测试和开放式体系结构ATE。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/30639]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 时万春. 集成电路测试技术的新进展[J]. 电子测量与仪器学报,2007,21.0(004):1. |
| APA | 时万春.(2007).集成电路测试技术的新进展.电子测量与仪器学报,21.0(004),1. |
| MLA | 时万春."集成电路测试技术的新进展".电子测量与仪器学报 21.0.004(2007):1. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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