一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李晓维1; 陈治国2; 徐勇军1 |
| 刊名 | 微电子学与计算机
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| 出版日期 | 2004 |
| 卷号 | 21.0期号:002页码:108 |
| 关键词 | CMOS电路 概率分析 扫描链 动态功耗模型 电路功耗 静态功耗 动态功耗 |
| ISSN号 | 1000-7180 |
| 英文摘要 | 文章通过对扫描测试期间扫描链跳变统计分析，建立了基于概率统计的扫描链功耗模型。该模型可以对扫描链的动态功耗进行快速准确的估计。在此基础上，依据扫描单元的置1概率重排扫描链能有效地降低扫描功耗。实验结果表明，这种方法是有效可行的。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/31877]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 1.中国科学院计算技术研究所 2.电子科技大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李晓维,陈治国,徐勇军. 一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型[J]. 微电子学与计算机,2004,21.0(002):108. |
| APA | 李晓维,陈治国,&徐勇军.(2004).一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型.微电子学与计算机,21.0(002),108. |
| MLA | 李晓维,et al."一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型".微电子学与计算机 21.0.002(2004):108. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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