测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 骆祖莹; 李晓维; 洪先龙 |
| 刊名 | 微电子学与计算机
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| 出版日期 | 2003 |
| 卷号 | 20.0期号:002页码:52 |
| 关键词 | 功耗 海明距离 集成电路 向量测试 电路功耗 时序电路 |
| ISSN号 | 1000-7180 |
| 英文摘要 | 文章通过调整测试向量未确定位的数目，来考虑测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响。ISCAS85和ISCAS89电路集的实验结果表明：无论对于组合电路还是时序电路，随着测试向量中未确定位数目的增加，未优化测试功耗有明显的降低，同时对于本文所考察的三种测试功耗优化方法，它们的优化效果均有明显的改善，其中海明距离优化方法的优化效果改善最大，当未确定位数目增加到90％以上时，可以用海明距离优化方法替代另外两种耗时的优化方法，直接到CMOS VLSI时序电路测试功耗进行优化。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/32326]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 1.清华大学 2.中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 骆祖莹,李晓维,洪先龙. 测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响[J]. 微电子学与计算机,2003,20.0(002):52. |
| APA | 骆祖莹,李晓维,&洪先龙.(2003).测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响.微电子学与计算机,20.0(002),52. |
| MLA | 骆祖莹,et al."测试向量中未确定位对测试功耗优化的影响".微电子学与计算机 20.0.002(2003):52. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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