基于极小碰集求解算法的测试向量集约简
文献类型：期刊论文
| 作者 | 欧阳丹彤2; 陈晓艳2; 叶靖1; 邓召勇; 张立明 |
| 刊名 | 计算机研究与发展
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| 出版日期 | 2019 |
| 卷号 | 56.0期号:011页码:2448 |
| 关键词 | 电路测试 自动测试向量生成 测试向量集 约简 故障覆盖率 极小碰集 固定型故障 |
| ISSN号 | 1000-1239 |
| 英文摘要 | 自动测试向量生成的目的是对特定的故障模型确定1个高质量测试向量集使得芯片(设计)的故障覆盖率达到期望值,在芯片测试中是非常重要的环节.TetraMAX ATPG 2018是众多ATPG工具中功能最强、最易于使用的自动测试向量生成工具,可以在很短的时间内生成具有高故障覆盖率的高质量测试向量集.提出基于极小碰集求解算法的极小完全测试向量集求解算法,通过对测试向量集约简问题重新建模,利用极小碰集求解算法对TetraMAX ATPG 2018产生的测试向量集进行约简.利用这一算法可以有效地缩减测试向量集规模,且保证其故障覆盖率不变,对降低芯片的测试成本有着重要的现实意义.实验针对固定型故障,结果表明:该算法具有良好的约简效果,而且可以保证所得测试向量集中不包含冗余的测试向量. |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/33154]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 1.中国科学院计算技术研究所 2.吉林大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 欧阳丹彤,陈晓艳,叶靖,等. 基于极小碰集求解算法的测试向量集约简[J]. 计算机研究与发展,2019,56.0(011):2448. |
| APA | 欧阳丹彤,陈晓艳,叶靖,邓召勇,&张立明.(2019).基于极小碰集求解算法的测试向量集约简.计算机研究与发展,56.0(011),2448. |
| MLA | 欧阳丹彤,et al."基于极小碰集求解算法的测试向量集约简".计算机研究与发展 56.0.011(2019):2448. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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