应用于逻辑核的BIST关键技术研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李吉; 徐勇军; 韩银和; 李晓维 |
| 刊名 | 计算机工程
 |
| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 31.0期号:023页码:55 |
| 关键词 | 可测性设计 逻辑内建自测试 测试点插入 |
| ISSN号 | 1000-3428 |
| 英文摘要 | 随着集成电路工艺进入深亚微米阶段后，电路复杂度的不断提高，特别是片上系统的不断发展，主要包括验证测试和制造测试的芯片测试，正在面临着巨大的挑战，传统的使用自动测试设备的测试方法越来越不能满足测试需要。各种用于提高芯片可测试性的可测性设计方法被提出，其中逻辑内建自测试方法已经被证明为大规模集成电路（VLS1）和SOC测试的一项有效的可测试性设计方法。文章首先对Logic BIST的基本原理结构进行介绍，然后对其在实践应用中的一些难点问题进行详细分析，最后给出针对一款高性能通用处理器实验的结果。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/34835]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李吉,徐勇军,韩银和,等. 应用于逻辑核的BIST关键技术研究[J]. 计算机工程,2005,31.0(023):55. |
| APA | 李吉,徐勇军,韩银和,&李晓维.(2005).应用于逻辑核的BIST关键技术研究.计算机工程,31.0(023),55. |
| MLA | 李吉,et al."应用于逻辑核的BIST关键技术研究".计算机工程 31.0.023(2005):55. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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