中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现

文献类型:期刊论文

作者李文1; 王恒才2; 唐志敏1
刊名计算机研究与发展
出版日期2003
卷号40.0期号:006页码:884
关键词CPU芯片 激励测试 边界扫描测试 程序性测试 FPGA
ISSN号1000-1239
英文摘要给出了CPU芯片硬件验证调试平台的一种具体设计方案.该验证调试平台在设计方法上采用了程序性在线测试方法.该平台构建了CPU芯片的运行环境,能够控制CPU芯片输入脉冲单拍/多拍或连续运行,并且在CPU芯片的运行过程中可以监测CPU芯片内部寄存器的内容.该平台的实现不仅有益于CPU芯片的设计和调试,而且能够作为CPU芯片设计教学系统以及嵌入式系统开发平台.
语种英语
源URL[http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/35327]  
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文
作者单位1.中国科学院计算技术研究所
2.中国科学技术大学
推荐引用方式
GB/T 7714
李文,王恒才,唐志敏. 一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现[J]. 计算机研究与发展,2003,40.0(006):884.
APA 李文,王恒才,&唐志敏.(2003).一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现.计算机研究与发展,40.0(006),884.
MLA 李文,et al."一种CPU芯片硬件验证调试平台的设计与实现".计算机研究与发展 40.0.006(2003):884.

入库方式: OAI收割

来源:计算技术研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。