超大规模集成电路可调试性设计综述
文献类型：期刊论文
| 作者 | 钱诚; 沈海华; 陈天石; 陈云霁
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| 刊名 | 计算机研究与发展
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| 出版日期 | 2012 |
| 卷号 | 49.0期号:1.0页码:21 |
| 关键词 | 调试 验证 硅后验证 并行程序调试 可调试性设计 |
| ISSN号 | 1000-1239 |
| 英文摘要 | 随着硬件复杂度的不断提高和并行软件调试的需求不断增长,可调试性设计已经成为集成电路设计中的重要内容.一方面,仅靠传统的硅前验证已经无法保证现代超大规模复杂集成电路设计验证的质量,因此作为硅后验证重要支撑技术的可调试性设计日渐成为大规模集成电路设计领域的研究热点.另一方面,并行程序的调试非常困难,很多细微的bug无法直接用传统的单步、断点等方法进行调试,如果没有专门的硬件支持,需要耗费极大的人力和物力.全面分析了现有的可调试性设计,在此基础上归纳总结了可调试性设计技术的主要研究方向并介绍了各个方向的研究进展,深入探讨了可调试性结构设计研究中的热点问题及其产生根源,给出了可调试性结构设计领域的发展趋势. |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/35815]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 钱诚,沈海华,陈天石,等. 超大规模集成电路可调试性设计综述[J]. 计算机研究与发展,2012,49.0(1.0):21. |
| APA | 钱诚,沈海华,陈天石,&陈云霁.(2012).超大规模集成电路可调试性设计综述.计算机研究与发展,49.0(1.0),21. |
| MLA | 钱诚,et al."超大规模集成电路可调试性设计综述".计算机研究与发展 49.0.1.0(2012):21. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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