组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 雷韶华; 韩银和; 李晓维 |
| 刊名 | 计算机研究与发展
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| 出版日期 | 2011 |
| 卷号 | 48.0期号:003页码:535 |
| 关键词 | 软错误率 电气屏蔽特性 窗闩屏蔽特性 逻辑屏蔽特性 重汇聚 |
| ISSN号 | 1000-1239 |
| 英文摘要 | 基于频域的软错误率分析方法可实现快速而精确地分析组合逻辑中软错误的电气屏蔽特性和窗闩屏蔽特性.该方法利用信号和逻辑门的频域特性,计算瞬时错误信号在组合逻辑电路中传播过程.基于频域的分析方法主要分为2个处理步骤：线性系统处理和非线性系统处理.线性系统处理通过电路系统的频率响应来计算输出信号.非线性系统处理瞬时信号的幅度过高而导致晶体管工作在不同的线性系统的情况.基于频域的分析方法采用电路系统的输入输出特性来计算非线性系统的输出信号.数据拟合的方法可以求解粒子击中而导致的瞬时错误信号的信号宽度和通路输出信号的信号宽度之间的函数关系.二者结合可计算由粒子撞击而导致错误信号的概率.使用反相器链的实验结果表明,相对于HSPICE仿真,基于频域的软错误率分析方法是高效的,且可以取得平均96.96%的精确度.使用ISCAS85基准电路和乘法器阵列的实验结果表明,基于频域的软错误率分析方法取得95.82%的精确度. |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/35863]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 雷韶华,韩银和,李晓维. 组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法[J]. 计算机研究与发展,2011,48.0(003):535. |
| APA | 雷韶华,韩银和,&李晓维.(2011).组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法.计算机研究与发展,48.0(003),535. |
| MLA | 雷韶华,et al."组合逻辑电路中软错误率的频域分析方法".计算机研究与发展 48.0.003(2011):535. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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