基于约束的处理器接口随机测试模型
文献类型：期刊论文
| 作者 | 郇丹丹; 李祖松; 刘志勇 |
| 刊名 | 计算机工程
 |
| 出版日期 | 2007 |
| 卷号 | 33.0期号:015页码:227 |
| 关键词 | 接口 功能验证 仿真 约束随机测试 覆盖率 龙芯2号 |
| ISSN号 | 1000-3428 |
| 英文摘要 | 提出了一种处理器接口测试模型,并给出了具体实现方案.该测试模型将仿真测试的方法应用于处理器接口测试,在激励生成中采用基于约束的随机测试生成方法.结果表明,基于约束的处理器接口随机测试模型的覆盖率达到83.68%,能够快速有效地完成处理器接口部件的功能验证. |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/35865]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郇丹丹,李祖松,刘志勇. 基于约束的处理器接口随机测试模型[J]. 计算机工程,2007,33.0(015):227. |
| APA | 郇丹丹,李祖松,&刘志勇.(2007).基于约束的处理器接口随机测试模型.计算机工程,33.0(015),227. |
| MLA | 郇丹丹,et al."基于约束的处理器接口随机测试模型".计算机工程 33.0.015(2007):227. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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