一种微处理器芯片的验证测试分析及应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 檀彦卓; 韩银和; 李晓维 |
| 刊名 | 计算机工程
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| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 32.0期号:009页码:219 |
| 关键词 | 验证测试 生产测试 失效分析 可测试性设计 故障模型 |
| ISSN号 | 1000-3428 |
| 英文摘要 | 验证测试技术是验证芯片设计正确与否的重要环节，不仅向设计者及时反馈了有效的信息以尽早发现错误、改进设计，并能为降低测试成本和生产测试提供有效保障。基于实际工程，该文提出了一个较有效的验证分析流程方案，采用多测试项目融合曲测试法对一款微处理器芯片进行了验证分析，并对相关测试项目进行了定量、定性的评估。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/36029]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 檀彦卓,韩银和,李晓维. 一种微处理器芯片的验证测试分析及应用[J]. 计算机工程,2006,32.0(009):219. |
| APA | 檀彦卓,韩银和,&李晓维.(2006).一种微处理器芯片的验证测试分析及应用.计算机工程,32.0(009),219. |
| MLA | 檀彦卓,et al."一种微处理器芯片的验证测试分析及应用".计算机工程 32.0.009(2006):219. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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