多核处理器硅后调试技术研究最新进展
文献类型：期刊论文
| 作者 | 高建良1; 韩银和2 |
| 刊名 | 计算机应用研究
 |
| 出版日期 | 2013 |
| 卷号 | 30.0期号:002页码:321 |
| 关键词 | 多核处理器 硅后调试 非确定性错误 |
| ISSN号 | 1001-3695 |
| 英文摘要 | 针对多核处理器硅后调试技术进行综述和分析。首先，介绍了多核处理器硅后调试技术面临的困难，特别是非确定性错误带来的新挑战；然后，概括介绍了国内外多核处理器硅后调试研究的最新进展，并分析了已有方法存在的问题；最后，对多核处理器硅后调试研究热点和趋势进行了分析，并指出该领域未来可能的研究方向。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/36257]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 1.中南大学 2.中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高建良,韩银和. 多核处理器硅后调试技术研究最新进展[J]. 计算机应用研究,2013,30.0(002):321. |
| APA | 高建良,&韩银和.(2013).多核处理器硅后调试技术研究最新进展.计算机应用研究,30.0(002),321. |
| MLA | 高建良,et al."多核处理器硅后调试技术研究最新进展".计算机应用研究 30.0.002(2013):321. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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