模拟验证中的覆盖评估准则
文献类型：期刊论文
| 作者 | 吕涛; 李晓维; 樊建平 |
| 刊名 | 微电子学与计算机
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| 出版日期 | 2003 |
| 卷号 | 20.0期号:002页码:40 |
| 关键词 | 模拟验证 覆盖评估准则 电路结构 可观测性 有限自动机 错误模型 集成电路 |
| ISSN号 | 1000-7180 |
| 英文摘要 | 模拟作为实际工程领域中设计验证的主要方法，其不完备性常常是不可避免的，对大规模的设计方案尤其如此，因此覆盖评估成为模拟验证中不可或缺的技术，文章在陈述覆盖评估意义的基础上，详细介绍了现有的各类覆盖评估准则，剖析了各个准则的优缺点，并通过实验得出比较数据。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/36847]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吕涛,李晓维,樊建平. 模拟验证中的覆盖评估准则[J]. 微电子学与计算机,2003,20.0(002):40. |
| APA | 吕涛,李晓维,&樊建平.(2003).模拟验证中的覆盖评估准则.微电子学与计算机,20.0(002),40. |
| MLA | 吕涛,et al."模拟验证中的覆盖评估准则".微电子学与计算机 20.0.002(2003):40. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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