基于扫描链的可编程片上调试系统
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈华军1; 娄卓阳1; 王焕东2; 刘慧2; 王琳2 |
| 刊名 | 高技术通讯
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| 出版日期 | 2015 |
| 卷号 | 000期号:006页码:584 |
| 关键词 | 硅后调试 片上调试系统 可编程 可调试性设计 故障诊断 实速测试 |
| ISSN号 | 1002-0470 |
| 英文摘要 | 研究了用于检验硅后芯片的硅后调试技术，考虑到现有的硅后调试技术缺乏实时监测芯片内部运行状态的能力，导致故障诊断的结果很不准确，提出一种基于扫描链的新的可编程片上调试系统。该系统充分利用芯片的片上传输总线，通过添加极少的硬件电路，使芯片能够实时监测自身的运行状态，并在满足程序设定的条件后，自动触发故障诊断模式。该系统充分利用芯片内建扫描链，通过控制扫描链实现对芯片内部状态精确配置和观测。此外，该系统通过片上时钟电路对调试时钟进行精确控制，保证各模式时钟切换的正确性，同时还支持实速测试，为时序分析和调试提供新途径。该系统已在最新一款龙芯高性能通用处理器芯片上得到成功应用。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/36995]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 1.中国科学院计算技术研究所 2.北京龙芯中科技术服务中心有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈华军,娄卓阳,王焕东,等. 基于扫描链的可编程片上调试系统[J]. 高技术通讯,2015,000(006):584. |
| APA | 陈华军,娄卓阳,王焕东,刘慧,&王琳.(2015).基于扫描链的可编程片上调试系统.高技术通讯,000(006),584. |
| MLA | 陈华军,et al."基于扫描链的可编程片上调试系统".高技术通讯 000.006(2015):584. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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