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一个适于形式验证的ATPG引擎

文献类型:期刊论文

作者李光辉; 邵明; 李晓维
刊名计算机研究与发展
出版日期2004
卷号41.0期号:005页码:886
关键词组合电路 测试产生 形式验证 二叉判决图 布尔可满足性
ISSN号1000-1239
英文摘要自动测试产生(ATPG)不仅应用于芯片测试向量生成,也是芯片设计验证的重要引擎之一.提出了一种组合电路测试产生的代数方法,既可作为组合验证的ATPG引擎,又可用于通常的测试产生.该算法充分发挥了二叉判决图(BDD)及布尔可满足性(SAT)的优势,通过启发式策略实现SAT算法与BDD算法的交替,防止因构造BDD可能导致的内存爆炸,而且使用增量的可满足性算法,进一步提高了算法的效率.实验结果表明了该算法的可行性和有效性.
语种英语
源URL[http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/37259]  
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文
作者单位中国科学院计算技术研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
李光辉,邵明,李晓维. 一个适于形式验证的ATPG引擎[J]. 计算机研究与发展,2004,41.0(005):886.
APA 李光辉,邵明,&李晓维.(2004).一个适于形式验证的ATPG引擎.计算机研究与发展,41.0(005),886.
MLA 李光辉,et al."一个适于形式验证的ATPG引擎".计算机研究与发展 41.0.005(2004):886.

入库方式: OAI收割

来源:计算技术研究所

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