一个适于形式验证的ATPG引擎
文献类型:期刊论文
作者 | 李光辉; 邵明; 李晓维 |
刊名 | 计算机研究与发展
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出版日期 | 2004 |
卷号 | 41.0期号:005页码:886 |
关键词 | 组合电路 测试产生 形式验证 二叉判决图 布尔可满足性 |
ISSN号 | 1000-1239 |
英文摘要 | 自动测试产生(ATPG)不仅应用于芯片测试向量生成,也是芯片设计验证的重要引擎之一.提出了一种组合电路测试产生的代数方法,既可作为组合验证的ATPG引擎,又可用于通常的测试产生.该算法充分发挥了二叉判决图(BDD)及布尔可满足性(SAT)的优势,通过启发式策略实现SAT算法与BDD算法的交替,防止因构造BDD可能导致的内存爆炸,而且使用增量的可满足性算法,进一步提高了算法的效率.实验结果表明了该算法的可行性和有效性. |
语种 | 英语 |
源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/37259] ![]() |
专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
作者单位 | 中国科学院计算技术研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李光辉,邵明,李晓维. 一个适于形式验证的ATPG引擎[J]. 计算机研究与发展,2004,41.0(005):886. |
APA | 李光辉,邵明,&李晓维.(2004).一个适于形式验证的ATPG引擎.计算机研究与发展,41.0(005),886. |
MLA | 李光辉,et al."一个适于形式验证的ATPG引擎".计算机研究与发展 41.0.005(2004):886. |
入库方式: OAI收割
来源:计算技术研究所
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