SER-Tvpack：基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 夏静2; 王天成1 ; 吕涛1; 李华伟1; 邝继顺2
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| 刊名 | 计算机研究与发展
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| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 51.0期号:008页码:1764 |
| 关键词 | SRAM型FPGA 软错误率 可靠性 装箱 单粒子翻转 |
| ISSN号 | 1000-1239 |
| 英文摘要 | 为了提高基于SRAM的FPGA（SFPGA）上的容软错误能力,提出了一种基于软错误率（soft error rate,SER）评估的装箱算法SER-Tvpack.通过结合软错误率的两个组成部分错误传播率（error propagation probability,EPP）和节点错误率（node error rate,NER）,得到软错误评估标准SER的估算值,并将该值作为可靠性因子加入到代价函数中指导装箱过程,以减少装箱后可编程逻辑块（configuration logic block,CLB）之间互连的软错误率,从而提高设计的可靠性.对20个MCNC基准电路（最大基准电路集）进行实验,结果表明,与基准时序装箱算法T-Vpack及已有的容错装箱算法FTvpack相比较,软故障率分别减少了14.5%和4.11%.而且,与F-Tvpack比较,在仅增加0.04%的面积开销下,减少了2.31%的关键路径的时延,提供了较好的时序性能. |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://119.78.100.204/handle/2XEOYT63/37449]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_中文 |
| 作者单位 | 1.中国科学院计算技术研究所 2.湖南大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 夏静,王天成,吕涛,等. SER-Tvpack：基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法[J]. 计算机研究与发展,2014,51.0(008):1764. |
| APA | 夏静,王天成,吕涛,李华伟,&邝继顺.(2014).SER-Tvpack：基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法.计算机研究与发展,51.0(008),1764. |
| MLA | 夏静,et al."SER-Tvpack：基于软错误率评估的SRAM型FPGA的装箱算法".计算机研究与发展 51.0.008(2014):1764. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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