基于弛豫矫正的磁粒子成像分辨率提升系统、方法及设备
文献类型:专利
作者 | 田捷; 朱涛; 惠辉![]() ![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2024-04 |
专利号 | ZL 2024 1 0005000.4 |
著作权人 | 中国科学院自动化研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
语种 | 中文 |
状态 | 已授权 |
源URL | [http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/57140] ![]() |
专题 | 自动化研究所_中国科学院分子影像重点实验室 |
作者单位 | 中国科学院自动化研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 田捷,朱涛,惠辉,等. 基于弛豫矫正的磁粒子成像分辨率提升系统、方法及设备. ZL 2024 1 0005000.4. 2024-04-01. |
入库方式: OAI收割
来源:自动化研究所
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