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狭缝高度对单色仪光谱分辨率的影响

文献类型:期刊论文

作者张靖; 张博; 刘凯; 王楷炀; 冯树龙; 李文昊; 姚雪峰
刊名中国光学(中英文)
出版日期2023-11-15
卷号16期号:06页码:1442-1449
英文摘要单色仪广泛应用于光谱定标、物质分析等方面,因此,对于高光谱分辨率单色仪系统的研究具有重要意义。本文基于矢量光栅方程推导考察了入射狭缝高度对光谱仪器谱线弯曲的影响程度,给出了谱线弯曲同波长、狭缝高度的解析表达式,进而提出了一种基于狭缝高度抑制谱线弯曲的单色仪光谱分辨率优化方案。结合高灵敏度、超快时间响应探测器的性能指标要求,设计了一款光谱分辨率为0.1 nm,波段范围为185 nm~900 nm的三光栅单色仪光学系统,并搭建样机验证狭缝高度对谱线弯曲的影响,进一步探究了狭缝高度对光谱分辨率的影响规律。实验结果表明:在狭缝宽度一定时,对狭缝高度进行优化,可将光谱分辨率从0.32 nm提高至0.1 nm。
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/68332]  
专题中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位1.长春光机科技发展有限责任公司
2.中国科学院大学
3.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
张靖,张博,刘凯,等. 狭缝高度对单色仪光谱分辨率的影响[J]. 中国光学(中英文),2023,16(06):1442-1449.
APA 张靖.,张博.,刘凯.,王楷炀.,冯树龙.,...&姚雪峰.(2023).狭缝高度对单色仪光谱分辨率的影响.中国光学(中英文),16(06),1442-1449.
MLA 张靖,et al."狭缝高度对单色仪光谱分辨率的影响".中国光学(中英文) 16.06(2023):1442-1449.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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