半导体激光器抗辐照性能无损检测系统的研制
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王双争; 曹军胜 ; 于松群; 高志坚
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| 刊名 | 激光杂志
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| 出版日期 | 2023 |
| 卷号 | 45期号:03页码:30-34 |
| 英文摘要 | 半导体激光器的电导数和低频电噪声参数可以反映器件的内部缺陷，与器件抗辐照性能具有相关性。介绍了基于电导数技术和低频电噪声技术设计的半导体激光器抗辐照性能检测系统，能够测量并提取激光器电导数及低频电噪声参数。通过微小剂量辐照前后的敏感参数对半导体激光器进行抗辐照性能评价，具有灵敏、无损等优势。 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/68387]  |
| 专题 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 作者单位 | 1.中国科学技术大学 2.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王双争,曹军胜,于松群,等. 半导体激光器抗辐照性能无损检测系统的研制[J]. 激光杂志,2023,45(03):30-34. |
| APA | 王双争,曹军胜,于松群,&高志坚.(2023).半导体激光器抗辐照性能无损检测系统的研制.激光杂志,45(03),30-34. |
| MLA | 王双争,et al."半导体激光器抗辐照性能无损检测系统的研制".激光杂志 45.03(2023):30-34. |
入库方式： OAI收割
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