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新型自准直外掩式日冕仪

文献类型:期刊论文

作者丁悦; 张红鑫; 黄玉鹏; 王泰升; 许文斌
刊名光子学报
出版日期2023
卷号52期号:05页码:195-206
英文摘要为了更好地实现对日冕及日冕物质抛射的观测,并使观测角度更加精准,设计了太阳对准系统,利用对准系统对太阳成像,根据探测器上太阳像的圆心坐标判断是否对准并调整日冕仪观测角度。将太阳对准系统应用在三圆盘外掩式日冕仪上进行实验,该日冕仪视场为±20°,工作波段为630~730 nm,F数为4,焦距为38 mm,分辨率为1.2'/pixel。对比了单圆盘外掩体与三圆盘外掩体对外掩体边缘衍射光的抑制能力,并提出一种黑洞检测法对日冕仪总杂散光进行检测。实验结果表明,日冕仪指向精度达到0.11',三圆盘外掩体边缘衍射杂散光低于单圆盘外掩体边缘衍射光,且日冕仪总杂散光抑制水平达到10-13量级。杂散光检测方法结果良好,准确性高,对准系统实现了预期功能。
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/68417]  
专题中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
作者单位1.中国科学院大学
2.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
丁悦,张红鑫,黄玉鹏,等. 新型自准直外掩式日冕仪[J]. 光子学报,2023,52(05):195-206.
APA 丁悦,张红鑫,黄玉鹏,王泰升,&许文斌.(2023).新型自准直外掩式日冕仪.光子学报,52(05),195-206.
MLA 丁悦,et al."新型自准直外掩式日冕仪".光子学报 52.05(2023):195-206.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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