Development of a Precise 4d Emittance Meter Using Differential Slit Image Processing
文献类型：会议论文
| 作者 | B.K. Shin; G. Hahn |
| 出版日期 | 2023 |
| 会议日期 | 2023 |
| 会议地点 | Canada |
| 会议录 | Proceedings of the 12th International Beam Instrumentation Conference
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| 语种 | 英语 |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/301150]  |
| 专题 | 高能物理研究所_学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IBIC |
| 作者单位 | PAL, Pohang, Republic of Korea |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | B.K. Shin,G. Hahn. Development of a Precise 4d Emittance Meter Using Differential Slit Image Processing[C]. 见:. Canada. 2023. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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