T-Mapping diagnostic system for vertical test of SHINE superconducting cavity
文献类型：会议论文
| 作者 | Y. Yu; H. Jiang; K. Xu; X. Liu; X. Ouyang |
| 出版日期 | 2024 |
| 会议日期 | 2024 |
| 会议地点 | USA |
| 会议录 | Proceedings of the 15th International Particle Accelerator Conference
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| 语种 | 英语 |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/302364]  |
| 专题 | 学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_IPAC |
| 作者单位 | Shanghai Advanced Research Institute |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Y. Yu, H. Jiang,K. Xu,et al. T-Mapping diagnostic system for vertical test of SHINE superconducting cavity[C]. 见:. USA. 2024. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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