一种基于背景纹影测量液体自由表面高度的方法及系统
文献类型：专利
| 作者 | 李慧鑫; 徐多 ; 何国威
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| 发表日期 | 2024-03-22 |
| 专利号 | CN116481765B |
| 著作权人 | 中国科学院力学研究所 |
| 英文摘要 | 本发明提供了一种基于背景纹影测量液体自由表面高度的方法及系统,方法包括：在待测透明液体的底部设置随机分布有标记点的背景图像,通过相机记录所述待测透明液体流经所述背景图像时所述背景图像的测量图像和无所述待测透明液体时所述背景图像的参考图像；结合上述测量图像和参考图像,使用PIV-PTV算法获得所述背景图像的测量图像虚拟位移,经过液体自由表面高度和虚拟位移关系确定所述待测透明液体的液体自由表面高度。本发明还提供了基于上述方法的系统,解决了现有测量方法限制测量分辨率的问题。 |
| 分类号 | 发明授权 |
| 申请日期 | 2023-04-25 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/97423]  |
| 专题 | 力学研究所_非线性力学国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李慧鑫,徐多,何国威. 一种基于背景纹影测量液体自由表面高度的方法及系统. CN116481765B. 2024-03-22. |
入库方式： OAI收割
来源：力学研究所
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