一种预测缺陷对高周和超高周疲劳强度影响的方法
文献类型：专利
| 作者 | 孙成奇 ; 魏宇杰
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| 发表日期 | 2024-02-02 |
| 专利号 | CN113392504B |
| 著作权人 | 中国科学院力学研究所 |
| 英文摘要 | 本发明提供一种预测缺陷对高周和超高周疲劳强度影响的方法,首先通过疲劳实验确定某寿命下光滑试样和含缺陷试样的高周和超高周疲劳强度,然后通过数学模型确定缺陷对该寿命下疲劳强度的影响关系。利用该关系,缺陷对疲劳强度的影响可以通过缺陷的尺寸来表征,进而可以预测缺陷对疲劳强度的影响。本发明公开的方法形式简单,便于应用,解决了缺陷对高周和超高周疲劳强度影响的数学模型描述和难以准确评估问题,为含缺陷材料或工程零部件的疲劳性能研究和评价提供了模型和技术支撑。 |
| 分类号 | 发明授权 |
| 申请日期 | 2021-05-18 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/97436]  |
| 专题 | 力学研究所_非线性力学国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙成奇,魏宇杰. 一种预测缺陷对高周和超高周疲劳强度影响的方法. CN113392504B. 2024-02-02. |
入库方式： OAI收割
来源：力学研究所
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