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一种基于双探针计算非均匀等离子体电场强度的方法

文献类型:专利

作者曹进文; 孟显; 黄河激; 陈瀚宇; 张颖; 张奇志; 张晖
发表日期2024-04-05
专利号CN116359623B
著作权人中国科学院力学研究所
英文摘要本发明公开了一种基于双探针计算非均匀等离子体电场强度的方法,所述方法包括如下内容:双探针的两根金属电极包裹于非均匀等离子体射流内,改变串接在所述双探针上的扫描电压的大小,采集每个扫描电压下所述双探针内的电流,根据扫描电压和对应的电流拟合I-V曲线,通过所述I-V曲线得到超声速非均匀等离子体射流的电场强度。本发明拓展了传统双探针的使用范围,从非均匀等离子体的特性出发,可以直接获得等离子体电场强度,解决了现有技术中非均匀等离子体的测量计算方法中,由于非均匀等离子体自身的不稳定性,计算得到的电场强度的误差随测量时间增大的问题。
分类号发明授权
申请日期2023-03-09
语种中文
源URL[http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/97417]  
专题力学研究所_高温气体动力学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
曹进文,孟显,黄河激,等. 一种基于双探针计算非均匀等离子体电场强度的方法. CN116359623B. 2024-04-05.

入库方式: OAI收割

来源:力学研究所

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