带导光部件的激光成像检漏装置
文献类型:专利
作者 | 许可法; 何龙德![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2001-12-05 |
专利号 | CN2463831Y |
著作权人 | 中国科学院力学研究所 |
国家 | 中国 |
英文摘要 | 本实用新型涉及带导光部件的激光成像检漏装置。包括在原有的激光成像检漏装置中包括一位于激光器和被测物之间的导光部件,导光部件的一端连接一作为可使激光束聚焦或发散的一块透镜,另一端直接用光学耦合器连接在激光器输出光的窗口上。该装置可任意改变激光照射在被检漏物上的方向,从而使检漏工作更加方便,可大大提高检测工作效率。尤其适合对大型多节头管道或容器进行检漏。 |
分类号 | 实用新型 |
申请日期 | 2000-08-02 |
状态 | 失效 |
源URL | [http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/99523] ![]() |
专题 | 力学研究所_力学所知识产出(1956-2008) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 许可法,何龙德,赵桂林,等. 带导光部件的激光成像检漏装置. CN2463831Y. 2001-12-05. |
入库方式: OAI收割
来源:力学研究所
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