假交替单胞菌对EH40/B10电偶腐蚀的影响
文献类型：CNKI期刊论文
| 作者 | 高洁艳; 吴佳佳 ; 张盾
|
| 发表日期 | 2018-10-25 |
| 出处 | 装备环境工程
 |
| 关键词 | 电偶腐蚀 EH40 B10 假交替单胞菌 |
| 英文摘要 | 目的研究假交替单胞菌(Pseudoalteromonassp.,P.sp.)对EH40/B10电偶腐蚀的影响。方法利用电化学工作站测试EH40/B10电偶电流、电偶电位及开路电位,利用扫描电子显微镜和激光共聚焦显微镜分别观察浸泡21天后EH40、B10表面的腐蚀形貌和生物膜,并且测定体系的溶解氧浓度、pH和P.sp.的数量。结果无菌体系的电偶电流远大于有菌体系,无菌体系的理论驱动电压也大于有菌体系。从腐蚀形貌来看,无菌体系中偶接B10比未偶接腐蚀得轻,而在有菌体系中是否偶接对EH40和B10的腐蚀形貌影响不大。无菌体系的溶解氧浓度远高于有菌体系,且有菌体系的pH比无菌体系低。结论 EH40/B10在无菌体系中的电偶腐蚀速率远大于在有菌体系,主要是因为P.sp.呼吸作用消耗氧气以及在电极表面形成生物膜从而抑制了电偶腐蚀。此外,在无菌体系中偶接B10受到了阴极保护,比未偶接腐蚀得轻,而在有菌体系中,是否偶接对EH40和B10的腐蚀影响不大,电偶腐蚀效应不明显。 |
| 文献子类 | CNKI期刊论文 |
| 资助机构 | 国家重点研发计划课题(2016YFB0300604) ; 国家自然科学基金项目(51771180、41806087) |
| 卷 | v.15期:10页:86-92 |
| 语种 | 中文; |
| 分类号 | TG172 |
| ISSN号 | 1672-9242 |
| 源URL | [http://ir.qdio.ac.cn/handle/337002/188748]  |
| 专题 | 中国科学院海洋研究所 |
| 作者单位 | 1.中国科学院海洋研究所 2.中国科学院海洋大科学研究中心 3.青岛国家海洋科学与技术实验室 4.中国科学院大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高洁艳,吴佳佳,张盾. 假交替单胞菌对EH40/B10电偶腐蚀的影响. 2018. |
入库方式： OAI收割
来源：海洋研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。