中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响

文献类型:期刊论文

作者梁军
刊名材料保护
出版日期2007
卷号40期号:8页码:24−26
关键词镁合金 微弧氧化 电流密度 微观结构 耐蚀性 magnesium alloy microarc oxidation current density microstructure corrosion resistance
ISSN号1001-1560
中文摘要电流密度是影响微弧氧化膜层结构和性能的主要因素之一。采用测厚仪、扫描电镜(SEM)、电化学测试等手段研究了AM60B镁合金在不同电流密度下硅酸盐溶液中微弧氧化膜层的结构和耐蚀性能。结果表明,随电流密度的增大,氧化膜厚度呈线性增加;氧化膜的表面微孔数目减少,微裂纹扩展程度增大。电化学腐蚀测试结果显示,电流密度9.0 A/dm2下生成的氧化膜耐蚀性最好,主要与膜层较致密的微观结构有关。
学科主题材料科学与物理化学
收录类别CSCD
资助信息创新研究群体科学基金(50421502)
语种中文
CSCD记录号CSCD:2854684
公开日期2013-11-01
源URL[http://210.77.64.217/handle/362003/4118]  
专题兰州化学物理研究所_固体润滑国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
梁军. 电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响[J]. 材料保护,2007,40(8):24−26.
APA 梁军.(2007).电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响.材料保护,40(8),24−26.
MLA 梁军."电流密度对镁合金微弧氧化膜结构和性能的影响".材料保护 40.8(2007):24−26.

入库方式: OAI收割

来源:兰州化学物理研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。