一种铂膜传感器的批量质量检测装置及检测方法
文献类型：专利
| 作者 | 吴松; 喻江 |
| 发表日期 | 2025-07-18 |
| 专利号 | CN115541059B |
| 著作权人 | 中国科学院力学研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种铂膜传感器的批量质量检测装置检测方法， 包括：传感器批量送料单元， 用于向老化检测仪依次输入定量的铂膜传感器；老化检测仪， 用于依次与每个铂膜传感器连接， 并向铂膜传感器定时通入恒定电流以模拟铂膜传感器的使用过程， 老化检测仪通过分析铂膜传感器的模拟使用过程中的特征参数来筛选合格的铂膜传感器。本发明检测准确， 检测效率高。 |
| 分类号 | 发明授权 |
| 申请日期 | 2022-09-15 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 有效 |
| 源URL | [http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/101966]  |
| 专题 | 力学研究所_高温气体动力学国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴松,喻江. 一种铂膜传感器的批量质量检测装置及检测方法. CN115541059B. 2025-07-18. |
入库方式： OAI收割
来源：力学研究所
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