层析粒子图像测速的卷积重构方法、系统、装备及介质
文献类型：专利
| 作者 | 杨云帆; 王洪平 |
| 发表日期 | 2025-10-03 |
| 专利号 | CN120047562B |
| 著作权人 | 中国科学院力学研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 英文摘要 | 本发明涉及了一种层析粒子图像测速的卷积重构方法、系统、设备及介质，一种层析粒子图像测速的卷积重构方法，包括：S101获取重构所需的粒子图像并设置重构参数；S102对离散后的空间体素进行初始化；S103将粒子图像的原始像素网格重新划分等级，得到高分辨率像素网格；S104得到高分辨率粒子图像灰度；S105根据划分等级计算空间体素的近似权重矩阵；S106根据映射函数将所有非零体素的球心投影到高分辨率像素平面上，用最近的像素中心，赋值得到粒子投影矩阵；S107利用近似权重矩阵作为卷积核和粒子投影矩阵进行卷积生成投影图像；S108计算投影图像与高分辨率图像之间每个像素对应的比值；S109更新空间体素的灰度。本发明提高层析粒子图像测速的粒子场重构效率和质量。 |
| 分类号 | 发明授权 |
| 申请日期 | 2025-01-26 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 有效 |
| 源URL | [http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/103951]  |
| 专题 | 力学研究所_非线性力学国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨云帆,王洪平. 层析粒子图像测速的卷积重构方法、系统、装备及介质. CN120047562B. 2025-10-03. |
入库方式： OAI收割
来源：力学研究所
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