Compton背散射探测系统的蒙特卡洛模拟
文献类型：期刊论文
| 作者 | 赵维; 魏存峰; 唐晓; 孙翠丽; 曹学香; 舒航; 史戎坚; 魏龙 |
| 刊名 | 2011年全国射线检测技术年会
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| 出版日期 | 2011 |
| 关键词 | Compton背散射 蒙特卡洛模拟 Geant4 Gate |
| 文献子类 | 会议 |
| 英文摘要 | Compton背散射成像技术由于其独特的优势J“泛廊用丁无损检测领域。本文利JHj蒙特卡洛 模拟软件包Geant4和基于Geant4的应用程序Gate模拟320kVp背散射探测系统的性能，如准直 器的参数、探测器采集角度对系统信号的影响、以及系统的探测深度等。此外，我们模拟了光谱 的衰减特性并与实验结果相比较，证明了蒙特卡洛模拟方法是有效的，该方法可用于背散射探测 系统设计及优化。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/304492]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵维,魏存峰,唐晓,等. Compton背散射探测系统的蒙特卡洛模拟[J]. 2011年全国射线检测技术年会,2011. |
| APA | 赵维.,魏存峰.,唐晓.,孙翠丽.,曹学香.,...&魏龙.(2011).Compton背散射探测系统的蒙特卡洛模拟.2011年全国射线检测技术年会. |
| MLA | 赵维,et al."Compton背散射探测系统的蒙特卡洛模拟".2011年全国射线检测技术年会 (2011). |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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