Design of the first full-scale HYLITE, a charge integration pixel detector readout chip for XFEL
文献类型：期刊论文
| 作者 | Li, M.; Wei, W.; Zhang, J.; Jiang, X.; Ju, X.; Li, Z.; Liu, P.; Sun, T.; Sheng, Z.; Sun, P. |
| 刊名 | JOURNAL OF INSTRUMENTATION
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| 出版日期 | 2024 |
| 卷号 | 19期号:12 |
| ISSN号 | 1748-0221 |
| DOI | 10.1088/1748-0221/19/12/C12013 |
| 文献子类 | Article |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/305640]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, M.,Wei, W.,Zhang, J.,et al. Design of the first full-scale HYLITE, a charge integration pixel detector readout chip for XFEL[J]. JOURNAL OF INSTRUMENTATION,2024,19(12). |
| APA | Li, M..,Wei, W..,Zhang, J..,Jiang, X..,Ju, X..,...&Liu, Z..(2024).Design of the first full-scale HYLITE, a charge integration pixel detector readout chip for XFEL.JOURNAL OF INSTRUMENTATION,19(12). |
| MLA | Li, M.,et al."Design of the first full-scale HYLITE, a charge integration pixel detector readout chip for XFEL".JOURNAL OF INSTRUMENTATION 19.12(2024). |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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