Effect of multiple coulomb scattering on the beam tests of silicon pixel detectors
文献类型：期刊论文
| 作者 | Li, LK; Dong, MY; Gao, Z; Jin, LCL; Zhao, SJ |
| 刊名 | NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES
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| 出版日期 | 2024 |
| 卷号 | 35期号:4页码:83 |
| ISSN号 | 1001-8042 |
| DOI | 10.1007/s41365-024-01447-9 |
| 文献子类 | Article |
| 电子版国际标准刊号 | 2210-3147 |
| WOS记录号 | WOS:001232696400010 |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/305721]  |
| 专题 | 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, LK,Dong, MY,Gao, Z,et al. Effect of multiple coulomb scattering on the beam tests of silicon pixel detectors[J]. NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES,2024,35(4):83. |
| APA | Li, LK,Dong, MY,Gao, Z,Jin, LCL,&Zhao, SJ.(2024).Effect of multiple coulomb scattering on the beam tests of silicon pixel detectors.NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES,35(4),83. |
| MLA | Li, LK,et al."Effect of multiple coulomb scattering on the beam tests of silicon pixel detectors".NUCLEAR SCIENCE AND TECHNIQUES 35.4(2024):83. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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