Design and Test of SiPM Readout Circuit
文献类型：期刊论文
| 作者 | Li, Kefan; Yang, Mingjie; Zhang, Shoushan; Chen, Long; Zhu, Fengrong |
| 刊名 | Proceedings of Science
 |
| 出版日期 | 2024 |
| 卷号 | 444 |
| DOI | 10.22323/1.444.0489 |
| 文献子类 | Proceedings Paper |
| 电子版国际标准刊号 | 18248039 |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/305674]  |
| 专题 | 高能物理研究所_粒子天体物理中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, Kefan,Yang, Mingjie,Zhang, Shoushan,et al. Design and Test of SiPM Readout Circuit[J]. Proceedings of Science,2024,444. |
| APA | Li, Kefan,Yang, Mingjie,Zhang, Shoushan,Chen, Long,&Zhu, Fengrong.(2024).Design and Test of SiPM Readout Circuit.Proceedings of Science,444. |
| MLA | Li, Kefan,et al."Design and Test of SiPM Readout Circuit".Proceedings of Science 444(2024). |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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