HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究
文献类型:期刊论文
| 作者 | 张天保; 彭良强; 陈红民; 魏龙; 孟伯年 |
| 刊名 | 核电子学与探测技术;Nuclear Electronics & Detection Technology
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| 出版日期 | 1999 |
| 卷号 | 19期号:4页码:241-250 |
| ISSN号 | 0258-0934 |
| 文献子类 | 期刊 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/304126] ![]() |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张天保,彭良强,陈红民,等. HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究[J]. 核电子学与探测技术;Nuclear Electronics & Detection Technology,1999,19(4):241-250. |
| APA | 张天保,彭良强,陈红民,魏龙,&孟伯年.(1999).HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究.核电子学与探测技术;Nuclear Electronics & Detection Technology,19(4),241-250. |
| MLA | 张天保,et al."HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究".核电子学与探测技术;Nuclear Electronics & Detection Technology 19.4(1999):241-250. |
入库方式: OAI收割
来源:高能物理研究所
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