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钯离子交联壳聚糖膜反应器微结构的正电子湮没研究

文献类型:期刊论文

作者夏锐2,3; 曾敏峰1; 杨静3; 高美珍2; 于润升3; 曹兴忠3; 王宝义3; 魏龙3
刊名第十三届全国正电子谱学会议
出版日期2016
关键词CS膜 自由体积 正电子湮没
文献子类会议
英文摘要

:采用溶液铸膜法在恒温环境下(30℃)制备了不同含量钯离子直接交联的壳聚糖(CS) 膜,X射线衍射表征结果表明离子交联干扰了壳聚糖分子链段排布,导致成膜结晶度发生改 变。分别采用LT-9和MELT软件程序对纯壳聚糖膜和掺杂壳聚糖膜样品的正电子湮没寿命 谱进行解谱分析,探讨了离子交联膜的平均自由体积大小与结晶状态的依赖关系。实验发现 无机盐掺杂过程中不可避免的引入了阴离子(CI’),氯离子的存在能够强烈的抑制电子偶素 的形成,进而干扰对正电子实验数据的分析。使用MELT程序将正电子寿命连续谱转化为 自由体积大小分布,可直观呈现钯盐交联前后膜微结构的变化

语种中文
源URL[https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/304504]  
专题高能物理研究所_多学科研究中心
作者单位1.绍兴文理学院
2.兰州大学
3.中国科学院高能物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
夏锐,曾敏峰,杨静,等. 钯离子交联壳聚糖膜反应器微结构的正电子湮没研究[J]. 第十三届全国正电子谱学会议,2016.
APA 夏锐.,曾敏峰.,杨静.,高美珍.,于润升.,...&魏龙.(2016).钯离子交联壳聚糖膜反应器微结构的正电子湮没研究.第十三届全国正电子谱学会议.
MLA 夏锐,et al."钯离子交联壳聚糖膜反应器微结构的正电子湮没研究".第十三届全国正电子谱学会议 (2016).

入库方式: OAI收割

来源:高能物理研究所

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