A new method for calibrating sample-to-detector distance in small-angle X-ray scattering
文献类型：期刊论文
| 作者 | Ji, XL; Chen, RC; Liu, JH; Li, X; Wu, HJ; Wang, YY; Dong, LL; Chen, JG; Li, DF; Li, ZH |
| 刊名 | JOURNAL OF INSTRUMENTATION
 |
| 出版日期 | 2024 |
| 卷号 | 19期号:11页码:P11024 |
| ISSN号 | 1748-0221 |
| DOI | 10.1088/1748-0221/19/11/P11024 |
| 文献子类 | Article |
| WOS记录号 | WOS:001381310200001 |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/305273]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Ji, XL,Chen, RC,Liu, JH,et al. A new method for calibrating sample-to-detector distance in small-angle X-ray scattering[J]. JOURNAL OF INSTRUMENTATION,2024,19(11):P11024. |
| APA | Ji, XL.,Chen, RC.,Liu, JH.,Li, X.,Wu, HJ.,...&Li, ZH.(2024).A new method for calibrating sample-to-detector distance in small-angle X-ray scattering.JOURNAL OF INSTRUMENTATION,19(11),P11024. |
| MLA | Ji, XL,et al."A new method for calibrating sample-to-detector distance in small-angle X-ray scattering".JOURNAL OF INSTRUMENTATION 19.11(2024):P11024. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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