A SiC Microstructured Neutron Detector Based on Deep Trench Etching Process
文献类型：期刊论文
| 作者 | Li, LH; Kang, LF; Tang, B; Li, JT; Meng, YH; Zhang, L; Guo, DW; Xu, XL; Zhang, Y |
| 刊名 | IEEE SENSORS JOURNAL
 |
| 出版日期 | 2024 |
| 卷号 | 24期号:22页码:36737-36744 |
| ISSN号 | 1530-437X |
| DOI | 10.1109/JSEN.2024.3467095 |
| 文献子类 | Article |
| 电子版国际标准刊号 | 1558-1748 |
| WOS记录号 | WOS:001355285600138 |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/305298]  |
| 专题 | 高能物理研究所_东莞分部 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, LH,Kang, LF,Tang, B,et al. A SiC Microstructured Neutron Detector Based on Deep Trench Etching Process[J]. IEEE SENSORS JOURNAL,2024,24(22):36737-36744. |
| APA | Li, LH.,Kang, LF.,Tang, B.,Li, JT.,Meng, YH.,...&Zhang, Y.(2024).A SiC Microstructured Neutron Detector Based on Deep Trench Etching Process.IEEE SENSORS JOURNAL,24(22),36737-36744. |
| MLA | Li, LH,et al."A SiC Microstructured Neutron Detector Based on Deep Trench Etching Process".IEEE SENSORS JOURNAL 24.22(2024):36737-36744. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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