Calibration and error analysis of an arc detector for wide-angle X-ray scattering (WAXS)
文献类型：期刊论文
| 作者 | Shang, XX; Chen, RC; Wu, HJ; Fan, YQ; Wang, MJ; Li, ZH; Chang, LP; Chen, JA |
| 刊名 | INSTRUMENTATION SCIENCE & TECHNOLOGY
 |
| 出版日期 | 2024 |
| 卷号 | 52期号:4页码:385-400 |
| ISSN号 | 1073-9149 |
| DOI | 10.1080/10739149.2023.2280188 |
| 文献子类 | Article |
| 电子版国际标准刊号 | 1525-6030 |
| WOS记录号 | WOS:001100421300001 |
| 源URL | [https://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/305465]  |
| 专题 | 高能物理研究所_多学科研究中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Shang, XX,Chen, RC,Wu, HJ,et al. Calibration and error analysis of an arc detector for wide-angle X-ray scattering (WAXS)[J]. INSTRUMENTATION SCIENCE & TECHNOLOGY,2024,52(4):385-400. |
| APA | Shang, XX.,Chen, RC.,Wu, HJ.,Fan, YQ.,Wang, MJ.,...&Chen, JA.(2024).Calibration and error analysis of an arc detector for wide-angle X-ray scattering (WAXS).INSTRUMENTATION SCIENCE & TECHNOLOGY,52(4),385-400. |
| MLA | Shang, XX,et al."Calibration and error analysis of an arc detector for wide-angle X-ray scattering (WAXS)".INSTRUMENTATION SCIENCE & TECHNOLOGY 52.4(2024):385-400. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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